中清航科WLCSP測試一體化方案縮短生產(chǎn)周期。集成探針卡與臨時鍵合層，實現(xiàn)300mm晶圓單次測試成本降低40%。在PMIC量產(chǎn)中，測試覆蓋率達99.2%。面向航天應用，中清航科抗輻照封裝通過MIL-STD-750認證。摻鉿二氧化硅鈍化層使總劑量耐受＞300krad，單粒子翻轉率＜1E-10 error/bit-day。已服務低軌衛(wèi)星星座項目。中清航科MEMS真空封裝良率突破98%。采用多孔硅密封技術，腔體真空度維持＜0.1Pa十年以上。陀螺儀零偏穩(wěn)定性達0.5°/h，滿足導航級應用。

芯片封裝的自動化生產(chǎn)：隨著市場需求的擴大和技術的進步，芯片封裝生產(chǎn)逐漸向自動化、智能化轉型。自動化生產(chǎn)不僅能提高生產(chǎn)效率，還能減少人為操作帶來的誤差，保證產(chǎn)品一致性。中清航科積極推進封裝生產(chǎn)的自動化改造，引入自動化封裝設備、智能物流系統(tǒng)和生產(chǎn)管理軟件，實現(xiàn)從芯片上料、封裝、檢測到成品入庫的全流程自動化。目前，公司的自動化生產(chǎn)線已能實現(xiàn)高產(chǎn)能、高精度的封裝生產(chǎn)，滿足客戶對交貨周期的嚴格要求。想要了解更多內(nèi)容可以關注我司官網(wǎng)，同時歡迎新老客戶來電咨詢。浙江lcc陶瓷封裝中清航科專注芯片封裝，通過材料革新讓微型化與高效能兼得。

中清航科在芯片封裝領域的優(yōu)勢-定制化服務：中清航科深知不同客戶在芯片封裝需求上存在差異，因此提供定制化的封裝服務。公司專業(yè)團隊會與客戶深入溝通，充分了解客戶的應用場景、性能要求以及成本預算等，然后為客戶量身定制合適的芯片封裝方案。無論是標準封裝還是特殊定制封裝，中清航科都能憑借自身實力，為客戶打造獨特的封裝產(chǎn)品。中清航科在芯片封裝領域的優(yōu)勢-質(zhì)量管控：質(zhì)量是中清航科的生命線。在芯片封裝過程中，公司建立了嚴格的質(zhì)量管控體系，從原材料采購到生產(chǎn)過程中的每一道工序，再到產(chǎn)品檢測，都進行了多方位、多層次的質(zhì)量監(jiān)控。通過先進的檢測設備和嚴格的檢測標準，確保每一個封裝芯片都符合高質(zhì)量要求，為客戶提供可靠的產(chǎn)品保障。

為應對Chiplet集成挑戰(zhàn)，中清航科推出自主知識產(chǎn)權的混合鍵合（Hybrid Bonding）平臺。采用銅-銅直接鍵合工藝，凸點間距降至5μm，互連密度達10?/mm2。其測試芯片在16核處理器集成中實現(xiàn)8Tbps/mm帶寬，功耗只為傳統(tǒng)方案的1/3。中清航科研發(fā)的納米銀燒結膠材料突破高溫封裝瓶頸。在SiC功率模塊封裝中，燒結層導熱系數(shù)達250W/mK，耐受溫度600℃，使模塊壽命延長5倍。該材料已通過ISO 26262認證，成為新能源汽車OBC充電模組優(yōu)先選擇方案。中清航科芯片封裝技術，通過電磁兼容設計，降低多芯片間信號干擾。

中清航科部署封裝數(shù)字孿生系統(tǒng)，通過AI視覺檢測實現(xiàn)微米級缺陷捕捉。在BGA植球工藝中，球徑一致性控制±3μm，位置精度±5μm。智能校準系統(tǒng)使設備換線時間縮短至15分鐘，產(chǎn)能利用率提升至90%。針對HBM內(nèi)存堆疊需求，中清航科開發(fā)超薄芯片處理工藝。通過臨時鍵合/解鍵合技術實現(xiàn)50μm超薄DRAM晶圓加工，4層堆疊厚度400μm。其TSV深寬比達10:1，阻抗控制在30mΩ以下，滿足GDDR6X 1TB/s帶寬要求。中清航科可拉伸封裝技術攻克可穿戴設備難題。采用蛇形銅導線與彈性體基底結合，使LED陣列在100%拉伸形變下保持導電功能。醫(yī)療級生物相容材料通過ISO 10993認證，已用于動態(tài)心電圖貼片量產(chǎn)。芯片封裝需精密工藝，中清航科以創(chuàng)新技術提升散熱與穩(wěn)定性，筑牢芯片性能基石。江蘇傳感器封裝廠家

中清航科芯片封裝創(chuàng)新，以客戶需求為導向，定制化解決行業(yè)痛點難題。浙江快速封裝 管殼

中清航科MIL-STD-883認證產(chǎn)線實現(xiàn)金錫共晶焊接工藝。在宇航級FPGA封裝中，氣密封裝漏率<5×10?? atm·cc/s，耐輻照總劑量達100krad。三防涂層通過96小時鹽霧試驗，服務12個衛(wèi)星型號項目。中清航科推出玻璃基板中介層技術，介電常數(shù)低至5.2@10GHz。通過TGV玻璃通孔實現(xiàn)光子芯片與電芯片混合集成，耦合損耗<1dB。該平臺已用于CPO共封裝光學引擎開發(fā)，傳輸功耗降低45%。中清航科建立全維度失效分析實驗室。通過3D X-Ray實時監(jiān)測BGA焊點裂紋，結合聲掃顯微鏡定位分層缺陷。其加速壽命測試模型可精確預測封裝產(chǎn)品在高溫高濕（85℃/85%RH）條件下的10年失效率。浙江快速封裝 管殼