上海天梯檢測，輸入低壓點(diǎn)循環(huán)測試 一次電源模塊的輸入欠壓點(diǎn)保護(hù)的設(shè)置回差，往往發(fā)生以下情況：輸入電壓較低，接近一次電源模塊欠壓點(diǎn)關(guān)斷，帶載時(shí)欠壓，斷后，由于電源內(nèi)阻原因，負(fù)載卸掉后電壓將上升，可能造成一次電源模塊處于在低壓時(shí)反復(fù)開發(fā)的狀態(tài)。 電源模塊帶滿載運(yùn)行，輸入電壓從（輸入欠壓點(diǎn)－3V）到（輸入欠壓點(diǎn)＋3V）緩慢變化，時(shí)間設(shè)置為5～8分鐘，反復(fù)循環(huán)運(yùn)行，電源模塊應(yīng)能正常穩(wěn)定工作，連續(xù)運(yùn)行較少0.5小時(shí)，電源模塊性能無明顯變化。有人了解地震測試嗎？浦東新區(qū)檢測地震

地震檢測電源模塊測試中的測試方法 1反復(fù)開關(guān)機(jī)測試 測試方法： 　　A、輸入電壓為220V，電源模塊快帶較大負(fù)載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開5s（或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬），連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，電源模塊應(yīng)能正常工作； 　　B、輸入電壓為過壓點(diǎn)-5V，電源模塊帶較大負(fù)載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開5s（或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬），連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，電源模塊應(yīng)能正常工作； 　　C、輸入電壓為欠壓點(diǎn)-5V，電源模塊帶更大負(fù)載，用接觸器控制電壓輸入，合15s，斷開5s（或者可以用AC SOURCE進(jìn)行模擬），連續(xù)運(yùn)行2小時(shí)，電源模塊應(yīng)能正常工作。浦東新區(qū)檢測地震地震試驗(yàn)測試的目的是什么？

自然界非常具有破壞力的力量之一就是地震，當(dāng)?shù)卣鸢l(fā)生后可以對社會(huì)造成毀滅性的生命和財(cái)產(chǎn)損失。除了建筑物和結(jié)構(gòu)，地震損壞的設(shè)備可能直接或間接地為人們或環(huán)境造成危害?；趯θ藗兒驮O(shè)施的保護(hù)，在一定的時(shí)間及環(huán)境下可以進(jìn)行模擬地震測試，主要為了檢測產(chǎn)品的抗震性能對于使用的通信及涉及安全(如核控制方面等)的設(shè)備應(yīng)當(dāng)經(jīng)過抗震性能檢測。目前發(fā)生在世界上主要地區(qū)的地震均可以在上海天梯地震模擬實(shí)驗(yàn)中重現(xiàn)，而且我國規(guī)定在我國抗震設(shè)防烈度 7 度以上(含 7 度)地區(qū)的公用電信網(wǎng)上使用的服務(wù)器和網(wǎng)關(guān)設(shè)備，應(yīng)通過抗地震性能檢測，未通過的產(chǎn)品不得在工程中使用。

地震一般會(huì)分為天然地震和人工地震兩大類。天然地震的震源深度大多在10km度范圍內(nèi) ,查明地殼上部斷裂與深部斷裂的關(guān)系 ,對地震危險(xiǎn)性評價(jià)意義重大。根據(jù)發(fā)生原因的不同，天然地震主要有三種類型：構(gòu)造地、火山地震、陷落地震。構(gòu)造地震，由于地下深處巖層錯(cuò)動(dòng)、破裂所造成的地震。這類地震發(fā)生的次數(shù)很多，破壞力也非常大，約占全球地震數(shù)的90%以上?；鹕降卣穑捎诨鹕阶饔?，如巖漿活動(dòng)、氣體爆炸等引起的振動(dòng)。火山地震一般影響范圍較小，發(fā)生得也較少，約占全球地震數(shù)的7%。陷落地震，由于地層陷落引起的地震，例如，當(dāng)?shù)叵氯芏椿虻V山采空區(qū)支撐不住頂部的壓力時(shí)，就會(huì)塌陷，引起振動(dòng)。這類地震更少，大約不到全球地震數(shù)的3%，引起的破壞也較小。地震測試哪里可以做?

HALT(Highly Accelerated Life Test，高加速壽命試驗(yàn))-HASS(Highly Accelerated Stress Screening，高加速應(yīng)力篩選)、這是一種能夠提高產(chǎn)品地震的測試手段，HALT/HASS 是由美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。它將原需花費(fèi)6 個(gè)月甚至1 年的新產(chǎn)品地震試驗(yàn)縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應(yīng)用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT/HASS 的試驗(yàn)方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗(yàn)證。在美國之外，許多國際的3C 電子產(chǎn)品大廠也都使用相同或類似的手法來提升產(chǎn)品質(zhì)量。 HALT 是一種通過讓被測物承受不同的應(yīng)力、進(jìn)而發(fā)現(xiàn)其設(shè)計(jì)上的缺限，以及潛在弱點(diǎn)的實(shí)驗(yàn)方法。加諸于產(chǎn)品的應(yīng)力有振動(dòng)，高低溫，溫度循環(huán)，電力開關(guān)循環(huán)，電壓邊際及頻率邊際測試等。HALT 應(yīng)用于產(chǎn)品的研發(fā)階段，能夠及早地發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品地震的薄弱環(huán)節(jié)。地震測試與質(zhì)量檢測有何區(qū)別?浦東新區(qū)檢測地震

地震測試的兩個(gè)關(guān)鍵性能指標(biāo)是什么？浦東新區(qū)檢測地震

高壓空載，低壓限流態(tài)運(yùn)行試驗(yàn) 測試說明： 高壓空載運(yùn)行是測試模塊的損耗情況，尤其是帶軟開關(guān)技術(shù)的模塊，在空載情況下，軟開關(guān)變?yōu)橛查_關(guān)，模塊的損耗相應(yīng)增大。低壓滿載運(yùn)行是測試模塊在較大輸入電流時(shí)，模塊的損耗情況，通常狀態(tài)下，模塊在低壓輸入、滿載輸出時(shí)，效率較低，此時(shí)模塊的發(fā)熱較為嚴(yán)重。 試驗(yàn)是模仿電子產(chǎn)品工作狀態(tài)進(jìn)行的，即焊點(diǎn)由于自身的電阻，當(dāng)有電流通過時(shí)會(huì)發(fā)熱，而不工作時(shí)焊點(diǎn)恢復(fù)到室溫，從高溫到室溫意味著焊點(diǎn)經(jīng)受高低溫的變化，在汽車電子中有些部位電子產(chǎn)品中焊點(diǎn)升溫會(huì)達(dá)剄800C以上。如果再加上環(huán)境溫度交替變化那么焊點(diǎn)升溫還會(huì)更高。故該試驗(yàn)方法實(shí)用性強(qiáng)，但試驗(yàn)周期長費(fèi)用高，試驗(yàn)前應(yīng)做好充分準(zhǔn)備。浦東新區(qū)檢測地震

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